








鍍覆孔(PTH,Plated Through-Hole)是PCB(印制電路板)中用于層間導(dǎo)電連接的關(guān)鍵結(jié)構(gòu)。

| 項(xiàng)目背景
鍍覆孔(PTH,Plated Through-Hole)是PCB(印制電路板)中用于層間導(dǎo)電連接的關(guān)鍵結(jié)構(gòu)。
| 項(xiàng)目概述
常用的鍍覆孔檢測(cè)方法包括:
(1) 顯微切片分析
步驟:
取樣:切割包含目標(biāo)孔的PCB區(qū)域。
鑲嵌:用樹(shù)脂封裝樣品。
研磨拋光:制備光滑橫截面。
顯微鏡觀察:使用金相顯微鏡或SEM(掃描電鏡)檢查孔壁鍍層質(zhì)量。
適用標(biāo)準(zhǔn):
IPC-TM-650 2.1.1(微切片制備方法)
IPC-A-600(PCB驗(yàn)收標(biāo)準(zhǔn))
(2)背光檢測(cè)
通過(guò)透光檢查孔壁鍍銅的連續(xù)性,適用于快速篩選缺陷。
| 測(cè)試目的
1. 評(píng)估孔壁鍍銅的厚度、均勻性和完整性。
2. 測(cè)量鍍層厚度是否符合標(biāo)準(zhǔn)(如IPC-6012、IPC-A-600)。
3. 檢查是否存在孔銅裂紋、空洞、分離、芯吸(過(guò)度)等缺陷。
| 試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
IPC-6012:剛性PCB性能規(guī)范
IPC-A-600:PCB可接受性標(biāo)準(zhǔn)
IPC-TM-650 2.1.1:切片手動(dòng)和半自動(dòng)制作法
QJ 832B航天用多層印制電路板試驗(yàn)方法
QJ 519A印制電路板試驗(yàn)方法
QJ 831B航天用多層印制電路板通用規(guī)范
| 服務(wù)產(chǎn)品/領(lǐng)域
涉及的產(chǎn)品:印制電路板 PCB FPC
涉及的領(lǐng)域:消費(fèi)電子、汽車(chē)電子、航空航天電子產(chǎn)品。
| 項(xiàng)目?jī)?yōu)勢(shì)
1、專(zhuān)業(yè)團(tuán)隊(duì):擁有多名經(jīng)驗(yàn)豐富的檢測(cè)工程師和技術(shù)專(zhuān)家。
2、先進(jìn)設(shè)備:配備國(guó)際領(lǐng)先的檢測(cè)設(shè)備,確保檢測(cè)結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。高準(zhǔn)確度和精密度、適用性強(qiáng)、方法基礎(chǔ)性強(qiáng)。
3、高效服務(wù):快速響應(yīng)客戶(hù)需求,提供一站式高效檢測(cè)服務(wù)。
4、權(quán)威認(rèn)證:實(shí)驗(yàn)室通過(guò)ISO/IEC 17025認(rèn)證,檢測(cè)報(bào)告具有國(guó)際公信力。