







集成電路復(fù)雜度與性能要求的持續(xù)攀升,疊加設(shè)計(jì)、制造、封裝及應(yīng)用環(huán)節(jié)的潛在風(fēng)險(xiǎn),導(dǎo)致短路、開路、漏電、燒毀、參數(shù)漂移等關(guān)鍵失效模式頻發(fā)。這不僅造成昂貴的器件報(bào)廢與系統(tǒng)宕機(jī),更常引發(fā)設(shè)計(jì)方、代工廠、封測(cè)廠與終端用戶間的責(zé)任爭(zhēng)議,帶來(lái)重大經(jīng)濟(jì)損失與信譽(yù)風(fēng)險(xiǎn)。
美信檢測(cè)依托深厚的集成電路失效分析技術(shù)積淀、覆蓋全生命周期完備分析平臺(tái)、海量失效案例數(shù)據(jù)庫(kù)及資深專家團(tuán)隊(duì),提供從失效現(xiàn)象復(fù)現(xiàn)到根因鎖定與改善建議的精準(zhǔn)、高效全流程解決方案。

隨著科學(xué)技術(shù)的不斷進(jìn)步,集成電路的應(yīng)用愈加廣泛,集成電路失效分析扮演著越來(lái)越重要的角色。一塊芯片上集成的器件可達(dá)幾干萬(wàn),要想找到失效器件實(shí)屬大海撈針,因此進(jìn)行集成電路失效分析必須具備先進(jìn)、準(zhǔn)確的技術(shù)和設(shè)備,并由具有專業(yè)知識(shí)的半導(dǎo)體分析人員開展分析工作。
集成電路包括存儲(chǔ)類IC、電源類1C、處理器IC、時(shí)鐘IC、接地IC、驅(qū)動(dòng)IC等不同的封裝形式。
1、元器件生產(chǎn)商:深度介入產(chǎn)品設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、可靠性試驗(yàn)、售后等階段,為客戶提供改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì)和工藝的理論依據(jù)。
2、組裝廠:劃分責(zé)任,提供索賠依據(jù);改進(jìn)生產(chǎn)工藝;篩選元器件供應(yīng)商;提高測(cè)試技術(shù);改進(jìn)電路設(shè)計(jì)。
3、器件代理商:區(qū)分品質(zhì)責(zé)任,提供索賠依據(jù)。
4、整機(jī)用戶:提供改進(jìn)操作環(huán)境和操作規(guī)程的依據(jù),提高產(chǎn)品可靠性,樹立企業(yè)品牌形象,提高產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力。
1、提供電子元器件設(shè)計(jì)和工藝改進(jìn)的依據(jù),指引產(chǎn)品可靠性工作方向;
2、查明電子元器件失效根本原因,有效提出并實(shí)施可靠性改進(jìn)措施;
3、提高成品產(chǎn)品成品率及使用可靠性,提升企業(yè)核心競(jìng)爭(zhēng)力;
4、明確引起產(chǎn)品失效的責(zé)任方,為司法仲裁提供依據(jù)。
分析過(guò)的元器件種類:
集成電路、場(chǎng)效應(yīng)管、二極管、發(fā)光二極管、三極管、晶閘管、電阻、電容、電感、繼電器、連接器、光耦、晶振等各種有源/無(wú)源器件。
開路、短路、燒毀、漏電、功能失效、電參數(shù)漂移、非穩(wěn)定失效等。